大鼠电惊厥后c－fos在中枢神经系统中的表达

本实验应用Ｆｏｓ蛋白免疫组织化方法对大鼠电惊厥后不同时程中枢神经系统内的ｃ－ｆｏｓ表达进行了观察,结果表明;①ｃ－ｆｏｓ表达于电惊厥后３０ｍｉｎ开始,２ｈ达高峰,４ｈ后逐渐下降,１２ｈ基本恢复正常。②Ｆｏｓ阳性神经元呈对称性分布,分布于颞叶听皮质、梨状皮质、内嗅皮质、ｓｔｒ１８区、杏仁体、海马、齿状回、斜角带核、弓状核、下丘脑腹内侧核、．视前区、丘脑、上丘灰质、中央灰质和脑桥腹侧部等结构。③ｃ－ｆｏｓ在颞叶听皮质、梨状皮质和内嗅皮质最先表达,表达程度最强,恢复也最慢,提示这些结构可能是电惊厥发生的起源结构,并呈现皮层结构向皮层下结构播散的过程,主要播及边缘结构。     

电针颧髎穴和尾部电流致痛后c—fos在大鼠中枢脑桥延髓内DBH阳性神经元中的表达

本研究在大鼠上分别用电针大鼠面部颧髎穴和尾部电流刺激致痛后,报道DBH阳性神经元与c—fos蛋白在中枢神经系统中的共存。实验在雄性SD大鼠上进行。刺激后2小时,经心脏用4％多聚甲醛磷酸缓冲液灌注固定,脑组织作冰冻冠状切片。在同一切片上顺序进行Fos抗体—ABC—DABni和DBH抗体—PAP—DAB双免疫细胞化学方法染色,并以不刺激动物作对照,结果表明:针组和痛组动物均可在脑干若干核团内观察到Fos样免疫阳性(FLI)显示神经元在细胞核上,星紫黑色。光镜下在A_1、A_2、A_3蓝斑与蓝斑下核处有DBH样免疫阳性(DLI)在细胞体、突起和终末上,呈棕黄色,但胞核不染。光镜下出现三种形式神经元:1.仅有FLI胞核染色。2.仅有DLI胞质、突起和终末染色。3.FLI胞核存在DLI胞体中(即共存)。统计分析表明。在脑干部位,FLI在网状外侧核(RL)、孤束核(nts)、延髓头端腹侧区(RVM)和导水管周围灰质的腹侧、腹外侧和外侧部位(PAG)针组显著多于痛组。共存神经元仅在A_1部位针组显著地多于痛组,A_2、A_5及蓝斑部位。针组与痛组的共存数差异不显著。     

电针和伤害性刺激条件下Fos在大鼠一些递质免疫阳性触液神经元中的表达

在电针和伤害性刺激条件下,分别可在大鼠的脑室和脑表面软膜部位的ＤｙｎＡ、Ｍ－Ｅｎｋ、Ｓｐ。ＮＴ、ＧＡＢＡ、ＤＢＨ及５－ＨＴ免疫阳性的接触脑脊液神经元中观察到ｃ－ｆｏｓ原癌基因蛋白的表达。这些触液神经元有的位于管膜上皮浅表,有的位于上皮之间或下方,构成管膜上、管膜间或管膜下触液神经元,在室管膜间虽然也能观察到典型的双极神经元,但占多数为多极神经元,并且也能观察到含纤毛的柱状管膜上皮受膨体状神经终末的支配。     

大鼠尾部痛刺激后脊髓骶尾段一氧化氮合酶的变化

用ＮＡＤＰＨｄ（还原型辅酶Ⅱ）组织化学方法观察大鼠尾部电流致痛刺激后不同时间脊髓骶尾段ＮＯＳ（一氧化氮合酶）阳性神经元的反应变化。同时用ＦＯＳ的免疫组织化学观察痛刺激后ＦＯＳ的表达。本文观察显示：电流致痛刺激后１５ｍｉｎ脊髓骶尾段ＮＯＳ反应明显增强,持续相当长时间,至痛刺激后８小时才逐渐减弱,刺激后２４小时反应强度相当于对照动物。而ＦＯＳ免疫组织化学反应,在痛刺激后３０ｍｉｎ起有少数神经元胞核浅染。由于ＮＯ极易通过细胞膜以弥散方式作用于附近细胞,激活靶细胞的鸟苷酸环化酶,从而引起靶细胞一系列反应。提示ＮＯ可能影响ｃｆｏｓ的表达