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| 原子力显微技术在观测微生物表面形态中的应用 | |
| 引用本文： | 王卫,曾柏全,龙小山,姚跃飞.原子力显微技术在观测微生物表面形态中的应用[J].微生物学杂志,2007,27(4):87-90. |
| 作者姓名： | 王卫 曾柏全 龙小山 姚跃飞 |
| 作者单位： | 1. 中南林业科技大学,生命科学学院生物工程系,湖南,长沙,410004;湖南师范大学,生命科学学院微生物系,湖南,长沙,410081 2. 中南林业科技大学,生命科学学院生物工程系,湖南,长沙,410004 3. 湖南师范大学,生命科学学院微生物系,湖南,长沙,410081 |
| 基金项目： | 中南林业科技大学校科研和教改项目 |
| 摘 要： | 原子力显微技术作为一门新发展起来的显微成像技术,不仅具有在近生理条件下对样本实时、高分辨率三维成像等特点,而且能通过力矩测量探知样本物理性状。即给人们认识微生物的表面结构提供又一平台,也为揭示微生物表面结构与功能之间的关系提供一种新方法。介绍了对微生物表面形态观测中常用测量模式和某些样品固定方法:多孔膜技术、凹陷技术,概括近年来原子力显微技术在微生物学中的应用情况。 |
| 关 键 词： | 微生物学 原子力显微镜 多孔膜技术 凹陷技术表面成像 活体成像 |
| 文章编号： | 1005-7021(2007)04-0087-04 |
| 修稿时间： | 2007年1月17日 |
The application of atomic force microscopy in scanning the surface of the Microorganism |
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| WANG Wei,ZENG Bo-quan,LONG Xiao-shan,YAO Yue-fei.The application of atomic force microscopy in scanning the surface of the Microorganism[J].Journal of Microbiology,2007,27(4):87-90. | |
| Authors: | WANG Wei ZENG Bo-quan LONG Xiao-shan YAO Yue-fei |
| Abstract: | Atomic force microscopy(AFM) acting as a newly developed technology has provided unique window to structure of microbial surface.It also can be used to probe the physical properties of the specimen by force-distance curves.AFM provides three-dimensional images of the specimen with molecular resolution in real time under physiological conditions.The result can provide new insight into the structure-function relationships of microbial surfaces through the measurements of the specimens.This review focuses on the application of AFM in microbiology,especially introduces the familiar measure mode used to observe the imaging surface of microorganism and some sample fixation methods such as porous membrane and depression technique. |
| Keywords: | Microbiology Atomic force microscopy porous membrane depression technique imaging of living cell |
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