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Optimal Stein-type goodness-of-fit tests for count data
Authors:Christian H Weiß  Pedro Puig  Boris Aleksandrov
Institution:1. Department of Mathematics and Statistics, Helmut Schmidt University, Hamburg, Germany;2. Departament de Matemàtiques, Universitat Autònoma de Barcelona, Barcelona, Spain
Abstract:
Keywords:asymptotic power analysis  binomial Stein identity  count data  goodness-of-fit test  Stein–Chen identity
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