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Optimal Stein-type goodness-of-fit tests for count data
Authors:
Christian H Weiß
Pedro Puig
Boris Aleksandrov
Institution:
1. Department of Mathematics and Statistics, Helmut Schmidt University, Hamburg, Germany;2. Departament de Matemàtiques, Universitat Autònoma de Barcelona, Barcelona, Spain
Abstract:
Keywords:
asymptotic power analysis
binomial Stein identity
count data
goodness-of-fit test
Stein–Chen identity
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