| 60Co事故受照人员远期细胞遗传学效应观察 |
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| 引用本文： | 吕玉民,韩林,陈玉浩,傅宝华,赵风玲. 60Co事故受照人员远期细胞遗传学效应观察[J]. 遗传, 1999, 21(4): 60 |
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| 作者姓名： | 吕玉民 韩林 陈玉浩 傅宝华 赵风玲 |
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| 作者单位： | 河南省职业病防治研究所,河南郑州,450052 |
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| 摘 要： | 对三例钴源事故受照人员照后6(7)年和11(12)年两次细胞遗传学随访结果表明，两次随访受照者染色体畸变率分别为4.29%和3.63%，均显著高于对照组(P<0.01)，但两次随访间未见显著差异(P>0.05)，而且第一次随访染色体畸变是以双+环和无着丝粒断片为主，第二次随访是以易位、缺失和倒位为主；两次随访受照者微核率分别为4.17‰和1.17‰，第二次随访微核率明显下降(P<0.01)。提示随着照后时间推移,非稳定性染色体畸变逐渐丢失，稳定性染色体畸变仍保持在较高水平。
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| 关 键 词： | 60Co 事故照射 染色体畸变 微核 远期效应 |
| 修稿时间： | 1998-03-04 |
Late Observation ofCytogenetics in Three CasesExposed to 60Co Radiation Accident |
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| LU Yu-min,HAN Lin,CHEN Yu-hao,FU Bao-hua,ZHAO Feng-ling. Late Observation ofCytogenetics in Three CasesExposed to 60Co Radiation Accident[J]. Hereditas, 1999, 21(4): 60 |
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| Authors: | LU Yu-min HAN Lin CHEN Yu-hao FU Bao-hua ZHAO Feng-ling |
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