拟南芥突变体tgd表型和分子生物学特性分析

主要研究1个由Ds插入所造成的大片段缺失拟南芥突变体tgd(ten gene deletion)．这个突变体来自于基因陷阱拟南芥突变体库．对这一突变体的后代卡那霉素抗性分离比分析和Southern杂交表明,只有1个Ds拷贝插入此突变体基因组中，但是Tail-PCR和随后用特异基因序列为引物的验证PCR证实在Ds插入过程中造成了30 kb基因片段的缺失．根据对拟南芥基因组序列的注释，这30 kb的序列中包含10个基因．这一多基因缺失突变体有多效性表型．整株表现为株型矮小，发育迟缓，根系不发达，极易失水而死，茎细弱，较短，花序不正常．其中,莲座叶的表型最为明显，突变体叶形较细，叶片较厚．为了研究这些基因在多效性表型产生中所发挥的功能，对来自ABRC种子库中所有基因的T-DNA插入突变体，即salk line的表型进行了分析，发现所有基因的T-DNA插入突变体均没有可见的表型．这一现象暗示,突变体tgd的表型是10个基因缺失的综合效应，但是10个基因的相互关系以及与tgd表型的相互关系仍有待于继续研究．