| 原子力显微镜定量测定采后蘑菇的表面粗糙度(英文) |
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| 引用本文： | 杨宏顺,冯国平,安红杰,李云飞.原子力显微镜定量测定采后蘑菇的表面粗糙度(英文)[J].Acta Botanica Sinica,2004,46(10):1249-1255. |
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| 作者姓名： | 杨宏顺 冯国平 安红杰 李云飞 |
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| 作者单位： | 上海交通大学机械与动力工程学院制冷与低温工程研究所，上海交通大学农业与生物学院食品科学与工程系，上海交通大学生命科学与技术学院纳米生物实验室，上海交通大学农业与生物学院食品科学与工程系 上海 200030 上海交通大学农业与生物学院食品科学与工程系，上海 201101，上海 20110(?)，上海 200030，上海 201101 |
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| 基金项目： | 上海市科委重大科技攻关项目(023912063)~~ |
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| 摘 要： | 蘑菇表面的失水情况是评价采后蘑菇质量的重要指标。我们提出用原子力显微镜定量测定蘑菇表皮的粗糙度来表示表面的皱缩程度,用算术平均粗糙度和平方根粗糙度表示。双孢蘑菇(Agaricus bisporus(Lange)Sing)贮藏前的算术平均粗糙度为(34.033±5.116)nm,经过2d贮藏,在2℃、25℃和动态温度自发气调贮藏下,其算术平均粗糙度分别为(40.139±3.359)nm、(65.356±8.253)nm和(43.670±9280)nm。平方根粗糙度值与算术平均粗糙度值有相似的变化趋势,两者均随贮藏时间的延长和温度的增加而增大。表皮的三维图像直观地表示出水分的蒸发过程,变化趋势符合粗糙度值的变化,特别是在贮藏的早期阶段(0～2d)。由粗糙度分析的结果可以区别不同的贮藏条件表明,原子力显微镜测定的粗糙度指标可有效地表示采后蘑菇的表面失水情况。
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| 关 键 词： | 原子力显微镜 伞菌属 蘑菇 采收 湿度 |
Quantitative Roughness Analysis of Post-harvest Agaricus bisporus by Atomic Force Microscopy |
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| Authors: | YANG Hong-Shun |
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| Institution: | YANG Hong-Shun~ |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | mushroom roughness degree atomic force microscopy(AFM) moisture loss modified atmosphere |
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