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Synchrotron X-ray imaging of inclusions in amber
Authors:Carmen Soriano  Mike Archer  Dany Azar  Phil Creaser  Xavier Delclòs  Henk Godthelp  Suzanne Hand  Allan Jones  André Nel  Didier Néraudeau  Jaime Ortega-Blanco  Ricardo Pérez-de la Fuente  Vincent Perrichot  Erin Saupe  Mónica Solórzano Kraemer  Paul Tafforeau
Affiliation:1. European Synchrotron Radiation Facility - X-Ray Imaging Group, 6, rue Jules-Horowitz, 38000 Grenoble, France;2. CNRS UMR 6118, géosciences & observatoire des sciences de l’université de Rennes, université Rennes 1, campus de Beaulieu, 35042 Rennes, France;3. School of Biological, Earth and Environmental Sciences, University of New South Wales, Sydney 2052, Australia;4. Lebanese University, P.O. Box 26110217, Fanar-Matn, Lebanon;5. CNRS UMR 7205, Muséum national d’histoire naturelle, 75231 Paris, France;6. Facultat de Geologia, Universitat de Barcelona, Barcelona 08024, Spain;7. Australian Key Centre for Microscopy & Microanalysis, University of Sydney, Sydney 2006, Australia;8. University of Kansas, Lawrence-Kansas 66045, USA;9. Steinmann Institut für Geologie, Mineralogie und Paläontologie, Bonn 53115, Germany;10. Senckenberg Forschungsinstitut und Naturmuseum, Frankfurt am Main 60325, Germany
Abstract:
Keywords:
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