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用基因芯片技术分析铝胁迫下小麦的基因表达谱
引用本文:李荣华,郭培国,Guihua Bai,Patricia Ayoubi.用基因芯片技术分析铝胁迫下小麦的基因表达谱[J].生物技术通讯,2007,18(4):581-586.
作者姓名:李荣华  郭培国  Guihua Bai  Patricia Ayoubi
作者单位:1. 广州大学,生命科学学院,广东,广州,510006
2. USDA-ARS, Plant Science and Entomology Research Unit, Kansas State University, Manhattan,Kansas,USA
3. Department of Biochemistry and Molecular Biology,Oklahoma State University,Stillwater, Oklahoma, USA
基金项目:国家自然科学基金;广东省广州市科技计划;广东省广州市教委科研项目;广东省广州市回国留学人员研究基金
摘    要:目的:采用基因表达谱分析方法,探讨小麦耐铝的分子机理。方法:利用抑制消减杂交(SSH)技术,以小麦的铝敏感品种Chisholm及其耐铝近等基因系Chisholm-T(其耐铝性来自小麦品种Atlas66)的根尖为材料,构建了2个铝胁迫后的SSHcDNA文库,共含有1628个表达序列标签(EST),利用这些EST制作了小麦根系的cDNA基因芯片。以cDNA基因芯片为平台,在铝胁迫后6h、1d、3d和7d,分别比较Chisholm和Chisholm-T之间的基因表达谱差异。结果:在各个时间点,耐铝和不耐铝小麦材料之间约有5%的EST表现出差异表达。对所有差异表达的EST进行测序分析,序列数据经Pipe-Online2.0进行毗连序列群(contig)拼接,发现只有8.3%的重复序列。结论:SSH是一种非常有效的差减和均一化的建库方法。对有功能注释的差异表达基因进行功能分类分析,表明这些基因参与了植物体内的电子传递、信号传导、植物保护和次生物质的代谢活动。

关 键 词:小麦  基因芯片  耐铝性  表达谱
文章编号:1009-0002f2007)04-0581-06
修稿时间:2007-06-25

Gene Expression Profiles of Wheat Under Aluminum Stress Using Microarrays
LI Rong-hua,GUO Pei-guo,Guihua Bai,Patricia Ayoubi.Gene Expression Profiles of Wheat Under Aluminum Stress Using Microarrays[J].Letters in Biotechnology,2007,18(4):581-586.
Authors:LI Rong-hua  GUO Pei-guo  Guihua Bai  Patricia Ayoubi
Abstract:
Keywords:Triticum aestivum L    microarray  aluminum tolerance  expression profile
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录!
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