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原子力显微镜在植物学研究中的应用
引用本文:祖元刚,张宇亮,刘志国,王延兵,梁慧丽,刘红梅.原子力显微镜在植物学研究中的应用[J].植物学通报,2006,23(6):708-717.
作者姓名:祖元刚  张宇亮  刘志国  王延兵  梁慧丽  刘红梅
作者单位:东北林业大学森林植物生态学教育部重点实验室,哈尔滨,150040
基金项目:国家重点基础研究发展计划(973计划);教育部科学技术研究项目
摘    要:原子力显微镜(AFM)是一种探测样品表面信息的有力工具,它可以在空气和接近样品生理条件下成像,同时也可以在皮牛(pico-Newton,10^-12N)至微牛(micro—Newton,10^-6N)水平上测量力的大小。本文主要介绍了自AFM发明以来,其在植物大分子、细胞器、细胞、叶片等方面的应用,并列举了目前AFM存在的几点不足。

关 键 词:原子力显微镜  植物  表面结构  形貌图
收稿时间:2006-06-13
修稿时间:2006-08-26

Application of Atomic Force Microscope in Plant Biology Research
Yuangang Zu,Yuliang Zhang,Zhiguo Liu,Yanbing Wang,Huili Liang,Hongmei Liu.Application of Atomic Force Microscope in Plant Biology Research[J].Chinese Bulletin of Botany,2006,23(6):708-717.
Authors:Yuangang Zu  Yuliang Zhang  Zhiguo Liu  Yanbing Wang  Huili Liang  Hongmei Liu
Institution:Key Laboratory of Forest Plant Ecology of Ministry of Education, Northeast Forestry University, Harbin 150040, China
Abstract:Atomic force microscope (AFM) is a powerful tool for high-resolution imaging of the surface of samples under air or physiological conditions in measurements ranging from pico-Newtons (10-12 N) to micro- Newtons (10-6 N). In this paper, we discuss the potential application of AFM in plant biology research of, for example, macromolecules, organelles, cells, and leaves, and summarize the current limitations of the technique.
Keywords:atomic force microscope  plant  surface structure  topography
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