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钝顶螺旋藻表面微观形貌的原子力显微镜研究
引用本文:聂明,张伟琼,彭珺,魏新林,肖明. 钝顶螺旋藻表面微观形貌的原子力显微镜研究[J]. 生物技术, 2005, 15(6): 57-59
作者姓名:聂明  张伟琼  彭珺  魏新林  肖明
作者单位:上海师范大学生命与环境科学学院,上海,200234
基金项目:致谢:实验用藻种为上海师范大学水生生态研究所提供,原子力显微镜的使用得到了董亚明教授的帮助,在这里一并表示感谢!
摘    要:该文应用原子力显微镜(AFM)纳米级的分辨率对钝顶螺旋藻(Spirulina platensis)表面微观形貌进行了研究,获得了扫描范围为5.000×5.000μm、1.000×1.000μm和400.0×400.0nm三组清晰、稳定的图像,并对其进行了线性分析。结果表明:螺旋藻表面由紧密且无序堆积的突起结构组成,其高度小于20nm;突起结构高度从3nm~15nm不等,平均高度约为8~9nm。此法用于生物体表面,操作简单、快速、灵敏度好且样品无损伤,结果令人满意。

关 键 词:钝顶螺旋藻 表面微观形态 原子力显微镜
文章编号:1004-311X(2005)06-0057-03
收稿时间:2005-05-14
修稿时间:2005-09-20

Studies on Topographical Microstructure of Spirulina platensis by Atomic Force Microscopy
NIE Ming,ZHANG Wei-qiong,PENG Jun,WEI Xin-lin,XIAO Ming. Studies on Topographical Microstructure of Spirulina platensis by Atomic Force Microscopy[J]. Biotechnology, 2005, 15(6): 57-59
Authors:NIE Ming  ZHANG Wei-qiong  PENG Jun  WEI Xin-lin  XIAO Ming
Affiliation:NIE Ming,ZHANG Wei-qiong,PENG Jun,WEI Xin-lin,XIAO Ming~*
Abstract:
Keywords:Spirulina platensis  topographical microstructure  atomic force microscopy(AFM)
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