根区缓冲降温处理对葡萄叶片冻害的影响

为探索根区降温条件对葡萄(Vitis vinifera)叶片冻害的影响,以1年生美乐葡萄(V.vinifera cv.‘Merlot’)幼苗为试材,设置根区正常降温和缓冲降温2种降温条件,人工模拟霜冻,分析了叶片冻害指数和叶片的荧光参数。结果表明,根区正常降温会导致根系受冻,同时叶片发生严重的冻害,冻害指数达74.36%;根区缓冲降温使根区温度保持在0°C以上,叶片冻害指数降低53.29%,仅有21.07%的叶片遭受了冻害。根区缓冲降温处理能有效提高叶片霜冻恢复过程中光化学淬灭系数(qP)和天线色素转化效率(F_v~'/F_m~'),加快PSII光合电子传递量子效率(Φ_(PSII))的恢复,提高热耗散能力(NPQ),减轻霜冻后的光抑制(F_v/F_m),有利于叶片霜冻后的恢复。     

低温处理葡萄根系对叶片PSII活性的影响

以美乐葡萄(Vitis vinifera cv. ‘Merlot’)幼苗为试材, 对叶片进行霜冻胁迫的同时控制土壤降温过程, 造成根系冷胁迫(2°C)和冻胁迫(0°C)。测定霜冻胁迫后和恢复期间叶片的快速叶绿素荧光参数, 并分析低温胁迫不同根系对叶片霜冻害程度的影响。结果表明, 根系在不同低温胁迫下会影响叶片对霜冻的反应, 根系冻胁迫造成叶片严重的霜冻伤害, 光系统II (PSII)反应中心活性难以得到恢复; 根系冷胁迫能避免叶片严重的低温伤害, 低温胁迫后PSII的活性也能很快恢复。